Ziele und Inhalt:

In der Vorlesung werden die wichtigsten Prinzipien der Rastersensormethoden zur Analyse von Oberflächen vorgestellt. Insbesondere folgende Schwerpunkte werden behandelt:

• Einführung in die Nanotechnologie
• Geschichte der Rastersondenmethoden
• Rastertunnelmikroskopie
• Rasterkraftmikroskopie
• Reibungskraftmikroskopie und Nanotribologie
• Nanolithographie

Literatur:

• Folien zur Vorlesung und Originalliteratur werden in der Vorlesung verteilt.
• Scanning Probe Microscopy – Lab on a Tip: Meyer, Hug, Bennewitz, Springer (2003)
• Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Methods and Applications: Wiesendanger, Cambridge University Press (1994)